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霍爾效應測試儀 簡介： 1.系統功能：用于測量半導體材料的電阻率/電導率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數、磁阻、垂直/水平阻力比的半導體高性能霍爾系統。模塊化設計理念，允許輕松升級，該系統適用于各種材料，包括硅和化合物半導體和金屬氧化物膜等。 2.該系統具有低電阻率和高電阻率測量功能，具有雙重溫度功能和一個可選的低溫恒溫器，可擴展該系統溫度范圍從90K到500K。

探針臺 簡介： 一、應用:主要應用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導體制程測試環節。 二、類型：分析直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測量、芯片級測量、定制化等 三、概況：1. 樣品尺寸：碎片~12英寸 2. 自動化：手動、半自動、全自動

它是利用陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式觀測的位置，利用其穿透不同密度物質后光強度的變化，產生的對比效果可形成影像，即可顯示出待測物的內部結構，進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內部有問題的區域。

Comet Yxlon FF35 CT X射線系統是一種創新的多功能高分辨率CT系統 ，用于研發和質量保證領域。FF35 CT 符合 SEMI® 的嚴苛標準（包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危險和安全標準）并通過了相應的認證。

X射線衍射儀XRD 產品概述： 智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。

探針式輪廓儀/臺階儀技術優勢：1. 每次掃描數據點：最多可達120.000數據點2. 最大樣品厚度：50mm(2英寸)3. 最大晶圓尺寸：200mm(8英寸)4 臺階高度重現性：4A，1sigma在1um臺階上5. 垂直范圍：1mm(0.039英寸)6.垂直分辨率：最大1A (6.55um垂直范圍下)