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  • FF系列CT系統

    Comet Yxlon開發了CTScan 3線探測器陣列(LDA),以滿足客戶的特殊要求和具有挑戰性的應用。憑借其前未有的信噪比、動態范圍和 254 μm 的像素間距,它是對大型和/或密集組件進行清晰檢測的解決方案。它設計用于高達 600 kV 的工作電壓,可減少不必要的散射輻射,并提供低噪聲電子設備和高效閃爍體。

    更新時間:2025-06-06
    型號:FF系列
    廠商性質:經銷商
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  • UNECS系列光譜橢偏儀

    UNECS系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式,實現了高速測量和機體的小型化。 我們的產品陣容包括便攜式,自動式和對應真空環境的設備內置式類型。

    更新時間:2025-06-06
    型號:UNECS系列
    廠商性質:經銷商
    瀏覽量:442
  • SENTECH SE 401adv激光橢圓儀

    SE 401adv 通過映射高達 200 毫米的液體單元、用于原位測量的液體單元、攝像機、自動對焦、模擬軟件和經過認證的標準晶圓,可根據您的需求進行調整。

    更新時間:2025-06-06
    型號:SENTECH SE 401adv
    廠商性質:經銷商
    瀏覽量:314
  • SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀

    SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術等新型太陽能電池技術的研發要求。它操作簡單,具有高測量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學元件,使其成為在粗糙樣品表面上進行光伏應用的理想工具

    更新時間:2025-06-06
    型號:SENTECH SER 800 PV
    廠商性質:經銷商
    瀏覽量:431
  • SE 400adv PV激光橢圓儀

    多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長為 632.8 nm 時,在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率??筛鼡Q晶圓支架允許在多晶硅片和堿性紋理單晶硅片上進行測量。

    更新時間:2025-06-06
    型號:SE 400adv PV
    廠商性質:經銷商
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  • SENTECH RM 1000 QC自動光譜反射儀

    SENTECH RM 1000 QC反射儀設計用于快速簡單地測量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度,用于工業生產過程中的質量控制。該工具涵蓋 20 nm 至 50 μm 的膜厚范圍,可用于 100 μm 的測試圖案。

    更新時間:2025-06-06
    型號:SENTECH RM 1000 QC
    廠商性質:經銷商
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