12月7日至8日，2021年“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試在我校順利開考，醫(yī)學(xué)技術(shù)系共40名學(xué)生參加考試。

考核由理論考試和技能操作兩個(gè)板塊組成，理論考試分為理論知識考試和虛擬仿真考試，技能操作分為測試實(shí)操和應(yīng)用實(shí)操，充分考核學(xué)生的晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路相關(guān)知識及技能?？荚嚭细駥@得由杭州朗迅科技有限公司頒發(fā)的集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級證書。

學(xué)校領(lǐng)導(dǎo)對此項(xiàng)工作高度重視，繼續(xù)教育學(xué)院聯(lián)合醫(yī)學(xué)技術(shù)系成立工作小組，嚴(yán)格按照“1+X”證書制度考核管理部署各項(xiàng)工作，并基于集成電路開發(fā)與測試中級職業(yè)技能標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)的職業(yè)技能要求，對學(xué)生進(jìn)行理論和實(shí)操培訓(xùn)?？荚嚻陂g，校長許能鋒親自到考場視察工作，全體考務(wù)人員嚴(yán)格按照考試規(guī)程對學(xué)生進(jìn)行考核，考場井然有序，考風(fēng)考紀(jì)良好，圓滿完成了“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試工作。

本次“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試工作的順利完成，進(jìn)一步促進(jìn)了集成電路開發(fā)與測試證書標(biāo)準(zhǔn)與學(xué)習(xí)內(nèi)容的融合，有利于學(xué)生扎實(shí)掌握集成電路相關(guān)技能，切實(shí)提高就業(yè)能力。

(繼續(xù)教育學(xué)院、醫(yī)學(xué)技術(shù)系)