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微型輪廓儀(光學檢測)

簡要描述:KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀(光學檢測)是株式會社小坂研究所的高精度微細形狀測定機,基于Windows系統,采用金剛石探針接觸測量,適用于多種材料表面形貌分析,如臺階、粗糙度等,配備多樣探針,操作直觀便捷,廣泛應用于半導體、光電等領域。

  • 產品型號:ET200A型
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-09-05
  • 訪  問  量: 378

詳細介紹

1. 樣品臺規格

樣品臺尺寸:Φ160mm

大工件尺寸:Φ200mm

大工件厚度:52mm

大工件重量:2kg

縱向調整范圍:2.5" (±5mm/160mm)

樣品臺材質:黑色硬質鉛

手動旋轉:360°(手動粗調)、±5°(微調,小約0.5°)

2. 傳感器參數

原理:光柵式傳感器

Z方向測定范圍:Max. 600μm

Z方向小分辨率(隨放大倍率變化):

x5,000倍時:10nm ±300μm

x10,000倍時:5nm ±160μm

x20,000倍時:2.5nm ±80μm

x50,000倍時:1nm ±32μm

x100,000倍時:0.5nm ±16μm

x200,000倍時:0.25nm ±8μm

x500,000倍時:0.1nm ±3.2μm

x1,000,000倍時:0.05nm ±1.6μm

x2,000,000倍時:0.025nm ±0.8μm

測定力:10μN~500μN

觸針半徑:2μm 60° 鉆石針頭(另有多種可選)

驅動方式:直流伺服

重復性:te = 0.2nm (1μm以下臺階時)

3. X軸(基準軸/測量軸)參數

移動量(大行程):100mm (±50mm)

直線度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)

移動速度:0.005~20mm/s

線性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm

位置重復誤差:±5nm

以下是詳細列出的機械臂參數和功能:

4. Z軸參數

移動量:54mm

移動速度:大2.0mm/S

檢出器自動停止機能

5. Y軸參數(手動定位用)

移動量:25mm(±12.5mm)

6. 工作觀察參數

彩色1/3"CCD,配備x4物鏡倍率

綜合倍率:約320倍(使用19"顯示器時)

視野范圍:1.2mm x 0.9mm

觀察方向:右側斜視

照明系統:白色LED,支持軟件調整明暗度

7. 軟件功能簡介

型號:i-STAR31

可設定測量條件菜單、重復測量設定及解析菜單

支持設定下針坐標,實現定位后自動測量及解析功能

配備低通濾波功能,有效過濾噪音及雜訊

具有返回測量起始點功能

顯示倍率范圍:垂直方向502,000,000倍,縱方向110,000倍

強大的解析功能,包括主要圖形、段差解析、粗糙度解析、內應力分析及多種段差解析選項

8. 其他參數

床臺材質:一體花崗巖

防振臺(選購):提供落地型或桌上型選項

電源規格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本體外觀尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一體花崗巖低重心結構設計(不含防振臺)


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